Micro-/Nanofokussysteme

 

 

xaminerphoenix x|aminer - Röntgeninspektionssystem

Der phoenix x|aminer ist ein benutzerfreundliches zerstörungsfreies (NDT) Röntgenprüfsystem der Einstiegsklasse mit starker Leistung, das für die besonderen Anforderungen einer hochauflösenden Röntgenprüfung von elektronischen Baugruppen, Komponenten und bestückten Leiterplatten entwickelt wurde. Dank der Kombination von CMOS Flächendetektor und Computertomographie (CT) liefert der phoenix x|aminer zudem signifikant bessere, kontrastreichere und hochauflösendere CT-Bilder im Vergleich zu Bildverstärker basierten CT-Ergebnissen. Die leistungsfähige Basissoftware phoenix x|act für 2D und phoenix datos|x base für CT ist benutzerfreundlich und ermöglicht sowohl eine manuelle als auch eine automatisierte Prüfung.

Kundennutzen und Leistungsmerkmale

Kundennutzen:

  • Offene 160 kV / 20 W Röntgenröhre zur Durchstrahlung von schwach und stark absorbierende Bauteilen
  • Verbesserte Live-Inspektion dank kontrastreichem CMOS Flächendetektor
  • Einfache und schnelle Computertomographie (CT) dank eines umfangreichen Softwarepakets
  • Intuitiv und leicht zu bedienende Software
  • Live-CAD-Datenoverlay
  • Automatische Röntgenübersichtsbilder zur einfachen Orientierung während der Inspektion

Wichtige Leistungsmerkmale:

  • Integrierter Kollisionsschutz
  • Geringer Platzbedarf durch kleine Aufstellfläche
  • ETL-zertifiziert in Übereinstimmung mit UL / CSA 61010-1 und 61010-2-091

Anwendungsbeispiele: zerstörungsfreie Prüfung und Fehleranalyse elektronischer Baugruppen, Bauteile und bestückter Leiterplatten, u.a. automatische Lötstelleninspektion, Halbleiterinspektion

 

 

micromexphoenix microme|x - Röntgensinspektionssystem

Der phoenix microme|x ist ein hochauflösendes mikrofokus Röntgeninspektionssystem mit 180 kV für die Echtzeitprüfung u.a. von Lötverbindungen und elektronischen Komponenten sowie für die automatische Prüfung (µAXI). Innovative und einzigartige Funktionen sowie extrem hohe Positionierungsgenauigkeit machen das System zu einer effektiven und zuverlässigen Lösung für ein breites Spektrum von 2D- und 3D-Prüfaufgaben: Forschung und Entwicklung, Fehleranalyse, Prozess- und Qualitätskontrolle sowie automatisierte Offline-Prüfung in unterschiedlichen Industriebereichen. Optional kann das System mit CT oder planarCT ausgestattet werden.

Kundennutzen und Leistungsmerkmale

Kundennutzen:

  • Extrem hohe Fehlererkennung und Wiederholgenauigkeit
  • Einfache Bedienung
  • Bis zu 2x schnellere Datenerfassung bei derselben hohen Bildqualität durch diamond|window
  • Kombinierte 2D/3D Röntgeninspektion

Wichtige Leistungsmerkmale:

  • Hochleistungsfähige Mikrofokus-Röhre mit 180 kV/20 W mit einer Detailerkennbarkeit von bis zu 0,5 µm
  • Brillante Live-Bilder dank des hoch dynamischen temperaturstabilisierten GE DXR-Digitaldetektors mit 30 fps (Einzelbilder pro Sekunde)
  • x|act Softwarepaket für eine einfache und schnelle, auf CAD-Daten basierende hochauflösende automatische Röntgenprüfung (µAXI)
  • Optionale offset|scan Funktionalität zum Scannen größerer Objekte oder gleich großer mit höherer Auflösung
  • Präzise Steuerung
  • 3D Computertomographie-Scans innerhalb von 10 Sekunden (optional)
  • planarCT-Option für die Fehleranalyse großflächiger und komplexer Bauteile z.B. Untersuchung einzelner Schichten einer doppelseitig bestückten Leiterplatte ohne störende überlagernde Strukturen im Röntgenbild

Anwendungsbeispiele: zerstörungsfreie Prüfung und Fehleranalyse elektronischer Baugruppen, Bauteile und bestückter Leiterplatten, u.a. automatische Lötstelleninspektion, Halbleiterinspektion

 

 

nanomexphoenix nanome|x - nanofokus Röntgeninspektionssystem

Der phoenix nanome|x ist ein hochauflösendes nanofokus Röntgeninspektionssystem, das nicht nur für die zerstörungsfreie Prüfung komplexer Baugruppen in der Elektronikindustrie optimiert ist, sondern auch eine effektive und zuverlässige Lösung für Prüfaufgaben in Forschung und Entwicklung, Fehleranalyse, Prozess- und Qualitätskontrolle darstellt. Das System bietet hervorragende Leistungsparameter und kann dank der optionalen Kombination aus 2D Röntgenprüfung und 3D Computertomographie vielseitig eingesetzt werden (micro- und nanoCT sowie planarCT). Mit dem Softwarepaket phoenix x|act ist der phoenix nanome|x das System der Wahl, wenn es um leicht zu programmierende CAD-basierte automatische Röntgenprüfung geht, um eine extrem hohe Fehlererkennung und Wiederholgenauigkeit sicherzustellen.

Kundennutzen und Leistungsmerkmale

Kundennutzen:

  • Kombinierte 2D/3D CT Röntgenprüfung
  • Brillante Live-Prüfbilder dank eines hochdynamischen temperaturstabilisierten digitalen GE DXR-Detektors mit 30 fps (Einzelbilder pro Sekunde) und aktiver Kühlung
  • Automatisierung der Prüfschritte möglich
  • Einfache Bedienung

Wichtige Leistungsmerkmale:

  • Hohe Vergrößerung
  • Präzise Manipulation
  • Optionale offset|scan Funktionalität zum Scannen größerer Objekte oder gleich großer mit höherer Auflösung
  • Extrem hohe Fehlererkennung und Wiederholgenauigkeit
  • Leistungsstarke 180 kV / 15 W offene Nanofokus-Röhre mit bis zu 200 Nanometer Detailerkennung
  • Aufrüstbar auf nanoCT® und / oder planarCT
  • Flash! FiltersTM Bildoptimierungstechnologie (optional)

Optional: 

  • Softwarepaket phoenix x|act für eine einfache und schnelle, CAD-basierte hochauflösende automatisierte Röntgenprüfung (µAXI)
  • CT-Scans innerhalb von nur 10 Sekunden möglich (optional)
  • Bis zu 2-mal schnellere Datenerfassung mit derselben hohen Bildqualitätsstufe durch diamond|window
  • planarCT-Option für die Fehleranalyse großflächiger und komplexer Bauteile z.B. Untersuchung einzelner Schichten einer doppelseitig bestückten Leiterplatte ohne störende überlagernde Strukturen im Röntgenbild

Anwendungsbeispiele: zerstörungsfreie Prüfung und Fehleranalyse elektronischer Baugruppen, Bauteile und bestückter Leiterplatten, u.a.  automatische Lötstelleninspektion, Halbleiterinspektion